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Documents dont l'auteur est "Kamińska, Bożena"

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Ben Hamida, N., & Kamińska, B. (1993). Multiple fault analog circuit testing by sensitivity analysis. Analog Integrated Circuits and Signal Processing, 4(3), 231-243. Lien externe

Dahmani, A., Savaria, Y., & Kamińska, B. (mai 1992). Standard cell placement with Dynamic Clouds method [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1992), San Diego, CA, United states. Lien externe

Liste produite: Sat Dec 6 04:17:02 2025 EST.