LIMSoft: Automated tool for design and test integration of analog circuits

Naim BenHamida, Khaled Saab, David Marche, Bożena Kamińska, Guy Quesnel

Communication écrite (1996)

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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
1996 IEEE International Test Conference
Lieu de la conférence:
Washington, DC, USA
Date(s) de la conférence:
1996-10-20 - 1996-10-24
Maison d'édition:
IEEE
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:31261
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:18
Citer en APA 7:
BenHamida, N., Saab, K., Marche, D., Kamińska, B., & Quesnel, G. (octobre 1996). LIMSoft: Automated tool for design and test integration of analog circuits [Communication écrite]. 1996 IEEE International Test Conference, Washington, DC, USA. https://doi.org/10.1109/test.1996.557094

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