Article de revue (1997)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(
vol.
16
,
no
7
)
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:30710
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:23
Dernière modification:
08 oct. 2026 17:38
Citer en APA 7:
Arabi, K., & Kamińska, B. (1997). Testing analog and mixed-signal integrated circuits using oscillation-test method. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 16(7), 745-753. https://doi.org/10.1109/43.644035
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