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Testing analog and mixed-signal integrated circuits using oscillation-test method

Karim Arabi et Bozena Kaminska

Article de revue (1997)

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Renseignements supplémentaires: Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Département: Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/30710/
Titre de la revue: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems (vol. 16, no 7)
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/43.644035
URL officielle: https://doi.org/10.1109/43.644035
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:23
Dernière modification: 18 avr. 2023 15:23
Citer en APA 7: Arabi, K., & Kaminska, B. (1997). Testing analog and mixed-signal integrated circuits using oscillation-test method. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 16(7), 745-753. https://doi.org/10.1109/43.644035

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