Karim Arabi et Bożena Kamińska
Article de revue (1997)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/30710/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems (vol. 16, no 7) |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/43.644035 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/43.644035 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:23 |
| Dernière modification: | 13 avr. 2026 11:10 |
| Citer en APA 7: | Arabi, K., & Kamińska, B. (1997). Testing analog and mixed-signal integrated circuits using oscillation-test method. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 16(7), 745-753. https://doi.org/10.1109/43.644035 |
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