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Documents dont l'auteur est "Kamińska, Bożena"

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B

Ben Hamida, N., & Kamińska, B. (1993). Multiple fault analog circuit testing by sensitivity analysis. Analog Integrated Circuits and Signal Processing, 4(3), 231-243. Lien externe

D

Dahmani, A., Savaria, Y., & Kamińska, B. (mai 1992). Standard cell placement with Dynamic Clouds method [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1992), San Diego, CA, United states. Lien externe

H

Hamida, N. B., & Kamińska, B. (juin 1991). A uniform testability measures representation for sequential and combinational circuits [Communication écrite]. International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1991), Singapore. Lien externe

S

Savaria, Y., Youssef, M., Kamińska, B., & Koudil, M. (juin 1991). Automatic test point insertion for pseudo-random testing [Communication écrite]. International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1991), Singapore. Lien externe

Liste produite: Wed Feb 25 03:44:55 2026 EST.