David H. Stannard et Bożena Kamińska
Communication écrite (1988)
Un lien externe est disponible pour ce document| Département: | Département de génie électrique |
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| ISBN: | 0818608706 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/75615/ |
| Nom de la conférence: | International Test Conference 1988 |
| Lieu de la conférence: | Washington, DC, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1988-09-12 - 1988-09-14 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/test.1988.207894 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/test.1988.207894 |
| Date du dépôt: | 13 avr. 2026 08:43 |
| Dernière modification: | 13 avr. 2026 08:43 |
| Citer en APA 7: | Stannard, D. H., & Kamińska, B. (septembre 1988). Detection of hard faults in a combinational circuit using budget constraints [Communication écrite]. International Test Conference 1988, Washington, DC, USA. https://doi.org/10.1109/test.1988.207894 |
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