Detection of hard faults in a combinational circuit using budget constraints

David H. Stannard, Bożena Kamińska

Communication écrite (1988)

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Département:
Département de génie électrique
ISBN:
0818608706
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/75615/
Nom de la conférence:
International Test Conference 1988
Lieu de la conférence:
Washington, DC, USA
Date(s) de la conférence:
1988-09-12 - 1988-09-14
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/test.1988.207894
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/test.1988.207894
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:75615
ORCID
Date du dépôt:
13 avr. 2026 08:43
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:37
Citer en APA 7:
Stannard, D. H., & Kamińska, B. (septembre 1988). Detection of hard faults in a combinational circuit using budget constraints [Communication écrite]. International Test Conference 1988, Washington, DC, USA. https://doi.org/10.1109/test.1988.207894

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