Karim Arabi, Bożena Kamińska, Janusz Rzeszut
Communication écrite (1994)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design
Lieu de la conférence:
San Jose, CA, USA
Date(s) de la conférence:
1994-11-06 - 1994-11-10
Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:33607
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:25
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:22
Citer en APA 7:
Arabi, K., Kamińska, B., & Rzeszut, J. (novembre 1994). New built-in self-test approach for digital-to-analog and analog-to-digital converters [Communication écrite]. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, San Jose, CA, USA. Publié dans IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. https://doi.org/10.1109/iccad.1994.629860
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