Mustapha Slamani, Bożena Kamińska et Guy Quesnel
Communication écrite (1994)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/32843/ |
| Nom de la conférence: | 1994 IEEE International Test Conference |
| Lieu de la conférence: | Washington, DC, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1994-10-02 - 1994-10-06 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/test.1994.528008 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/test.1994.528008 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 14 avr. 2026 10:39 |
| Citer en APA 7: | Slamani, M., Kamińska, B., & Quesnel, G. (octobre 1994). Integrated approach for analog circuit testing with a minimum number of detected parameters [Communication écrite]. 1994 IEEE International Test Conference, Washington, DC, USA. https://doi.org/10.1109/test.1994.528008 |
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