Naim BenHamida, Bożena Kamińska
Communication écrite (1994)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
ISBN:
0818649909
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
7th International Conference on VLSI Design
Lieu de la conférence:
Calcutta, India
Date(s) de la conférence:
1994-01-05 - 1994-01-08
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:33239
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:25
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:21
Citer en APA 7:
BenHamida, N., & Kamińska, B. (janvier 1994). Multiple fault testing in analog circuits [Communication écrite]. 7th International Conference on VLSI Design, Calcutta, India. https://doi.org/10.1109/icvd.1994.282657
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