Naim Ben Hamida et Bozena Kaminska
Communication écrite (1994)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/33239/ |
| Nom de la conférence: | 7th International Conference on VLSI Design |
| Lieu de la conférence: | Calcutta, India |
| Date(s) de la conférence: | 1994-01-05 - 1994-01-08 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/icvd.1994.282657 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/icvd.1994.282657 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:24 |
| Citer en APA 7: | Hamida, N. B., & Kaminska, B. (janvier 1994). Multiple fault testing in analog circuits [Communication écrite]. 7th International Conference on VLSI Design, Calcutta, India. https://doi.org/10.1109/icvd.1994.282657 |
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