Naim BenHamida et Bożena Kamińska
Communication écrite (1994)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| ISBN: | 0818649909 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/33239/ |
| Nom de la conférence: | 7th International Conference on VLSI Design |
| Lieu de la conférence: | Calcutta, India |
| Date(s) de la conférence: | 1994-01-05 - 1994-01-08 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/icvd.1994.282657 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/icvd.1994.282657 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 14 avr. 2026 10:29 |
| Citer en APA 7: | BenHamida, N., & Kamińska, B. (janvier 1994). Multiple fault testing in analog circuits [Communication écrite]. 7th International Conference on VLSI Design, Calcutta, India. https://doi.org/10.1109/icvd.1994.282657 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
