Samir Lejmi, Bożena Kamińska, Bechir Ayari
Communication écrite (1995)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
13th IEEE VLSI Test Symposium
Lieu de la conférence:
Princeton, NJ, USA
Date(s) de la conférence:
1995-04-30 - 1995-05-03
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:31998
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:25
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:19
Citer en APA 7:
Lejmi, S., Kamińska, B., & Ayari, B. (avril 1995). Retiming, resynthesis, and partitioning for the pseudo-exhaustive testing of sequential circuits [Communication écrite]. 13th IEEE VLSI Test Symposium, Princeton, NJ, USA. https://doi.org/10.1109/vtest.1995.512671
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