Janusz Rzeszut, Bożena Kamińska et Yvon Savaria
Communication écrite (1995)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31759/ |
| Nom de la conférence: | 4th Asian Test Symposium |
| Lieu de la conférence: | Bangalore, India |
| Date(s) de la conférence: | 1995-11-23 - 1995-11-24 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/ats.1995.485327 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/ats.1995.485327 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 14 avr. 2026 10:54 |
| Citer en APA 7: | Rzeszut, J., Kamińska, B., & Savaria, Y. (novembre 1995). New method for testing mixed analog and digital circuits [Communication écrite]. 4th Asian Test Symposium, Bangalore, India. https://doi.org/10.1109/ats.1995.485327 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
