Janusz Rzeszut, Bozena Kaminska et Yvon Savaria
Communication écrite (1995)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31759/ |
| Nom de la conférence: | 4th Asian Test Symposium |
| Lieu de la conférence: | Bangalore, India |
| Date(s) de la conférence: | 1995-11-23 - 1995-11-24 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/ats.1995.485327 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/ats.1995.485327 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:21 |
| Citer en APA 7: | Rzeszut, J., Kaminska, B., & Savaria, Y. (novembre 1995). New method for testing mixed analog and digital circuits [Communication écrite]. 4th Asian Test Symposium, Bangalore, India. https://doi.org/10.1109/ats.1995.485327 |
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