Janusz Rzeszut, Bożena Kamińska, Yvon Savaria
Communication écrite (1995)
Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
4th Asian Test Symposium
Lieu de la conférence:
Bangalore, India
Date(s) de la conférence:
1995-11-23 - 1995-11-24
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:31759
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:25
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:19
Citer en APA 7:
Rzeszut, J., Kamińska, B., & Savaria, Y. (novembre 1995). New method for testing mixed analog and digital circuits [Communication écrite]. 4th Asian Test Symposium, Bangalore, India. https://doi.org/10.1109/ats.1995.485327
Statistiques
Dimensions
