Saab Khaled, Bożena Kamińska, Bernard Courtois, Marcelo Lubaszewski
Communication écrite (1995)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
13th IEEE VLSI Test Symposium
Lieu de la conférence:
Princeton, NJ, USA
Date(s) de la conférence:
1995-04-30 - 1995-05-03
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:32099
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:25
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:19
Citer en APA 7:
Khaled, S., Kamińska, B., Courtois, B., & Lubaszewski, M. (avril 1995). Frequency-based BIST for analog circuit testing [Communication écrite]. 13th IEEE VLSI Test Symposium, Princeton, NJ, USA. https://doi.org/10.1109/vtest.1995.512617
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