Communication écrite (1993)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/42628/ |
| Nom de la conférence: | 2nd IEEE Asian Test Symposium (ATS 1993) |
| Lieu de la conférence: | Beijing, China |
| Date(s) de la conférence: | 1993-11-16 - 1993-11-18 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/ats.1993.398798 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/ats.1993.398798 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:26 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:40 |
| Citer en APA 7: | Slamani, M., & Kaminska, B. (novembre 1993). T-BIST: A built-in self-test for analog circuits based on parameter translation [Communication écrite]. 2nd IEEE Asian Test Symposium (ATS 1993), Beijing, China. https://doi.org/10.1109/ats.1993.398798 |
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