Mohamed Slamani, Bożena Kamińska
Communication écrite (1993)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
2nd IEEE Asian Test Symposium (ATS 1993)
Lieu de la conférence:
Beijing, China
Date(s) de la conférence:
1993-11-16 - 1993-11-18
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:42628
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:26
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:54
Citer en APA 7:
Slamani, M., & Kamińska, B. (novembre 1993). T-BIST: A built-in self-test for analog circuits based on parameter translation [Communication écrite]. 2nd IEEE Asian Test Symposium (ATS 1993), Beijing, China. https://doi.org/10.1109/ats.1993.398798
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