Yvon Savaria
, M. Youssef, Bożena Kamińska, M. Koudil
Communication écrite (1991)
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Département:
ISBN:
0780300505
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1991)
Lieu de la conférence:
Singapore
Date(s) de la conférence:
1991-06-11 - 1991-06-14
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:72153
ORCID
Date du dépôt:
05 févr. 2026 15:07
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:32
Citer en APA 7:
Savaria, Y., Youssef, M., Kamińska, B., & Koudil, M. (juin 1991). Automatic test point insertion for pseudo-random testing [Communication écrite]. International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1991), Singapore. https://doi.org/10.1109/iscas.1991.176793
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