M-testability: An approach for data-path testability evaluation

Mohamed Jamoussi, Bożena Kamińska

Communication écrite (1994)

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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
ISBN:
0818654112
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
European Design and Test Conference
Lieu de la conférence:
Paris, Fr
Date(s) de la conférence:
1994-02-28 - 1994-03-03
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:33192
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:25
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:21
Citer en APA 7:
Jamoussi, M., & Kamińska, B. (février 1994). M-testability: An approach for data-path testability evaluation [Communication écrite]. European Design and Test Conference, Paris, Fr. https://doi.org/10.1109/edtc.1994.326837

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