Design-for-testability using test design yield and decision theory

Bożena Kamińska, Yvon Savaria

Communication écrite (1989)

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Département:
Département de génie électrique
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/74307/
Nom de la conférence:
International Test Conference 1989
Lieu de la conférence:
Washington, DC, USA
Date(s) de la conférence:
1989-08-29 - 1989-08-31
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/test.1989.82379
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/test.1989.82379
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:74307
ORCID
Date du dépôt:
13 avr. 2026 13:56
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:35
Citer en APA 7:
Kamińska, B., & Savaria, Y. (août 1989). Design-for-testability using test design yield and decision theory [Communication écrite]. International Test Conference 1989, Washington, DC, USA. https://doi.org/10.1109/test.1989.82379

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