Bożena Kamińska et Yvon Savaria
Communication écrite (1989)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/74307/ |
| Nom de la conférence: | International Test Conference 1989 |
| Lieu de la conférence: | Washington, DC, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1989-08-29 - 1989-08-31 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/test.1989.82379 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/test.1989.82379 |
| Date du dépôt: | 13 avr. 2026 13:56 |
| Dernière modification: | 13 avr. 2026 13:56 |
| Citer en APA 7: | Kamińska, B., & Savaria, Y. (août 1989). Design-for-testability using test design yield and decision theory [Communication écrite]. International Test Conference 1989, Washington, DC, USA. https://doi.org/10.1109/test.1989.82379 |
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