Naim BenHamida et Bożena Kamińska
Communication écrite (1993)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| ISBN: | 0780314301 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/75616/ |
| Nom de la conférence: | International Test Conference 1993 |
| Lieu de la conférence: | Baltimore, MD, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1993-10-17 - 1993-10-21 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/test.1993.470638 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/test.1993.470638 |
| Date du dépôt: | 17 avr. 2026 13:33 |
| Dernière modification: | 17 avr. 2026 13:33 |
| Citer en APA 7: | BenHamida, N., & Kamińska, B. (octobre 1993). Analog circuit testing based on sensitivity computation and new circuit modeling [Communication écrite]. International Test Conference 1993, Baltimore, MD, USA. https://doi.org/10.1109/test.1993.470638 |
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