Naim BenHamida, Bożena Kamińska
Communication écrite (1993)
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Département:
ISBN:
0780314301
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
International Test Conference 1993
Lieu de la conférence:
Baltimore, MD, USA
Date(s) de la conférence:
1993-10-17 - 1993-10-21
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:75616
ORCID
Date du dépôt:
17 avr. 2026 13:33
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:37
Citer en APA 7:
BenHamida, N., & Kamińska, B. (octobre 1993). Analog circuit testing based on sensitivity computation and new circuit modeling [Communication écrite]. International Test Conference 1993, Baltimore, MD, USA. https://doi.org/10.1109/test.1993.470638
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