B. Ayari, N. Ben Hamida et Bozena Kaminska
Communication écrite (1995)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/32618/ |
| Nom de la conférence: | European Conference on Design and Test (EDTC 1995) |
| Lieu de la conférence: | Paris, France |
| Date(s) de la conférence: | 1995-03-06 - 1995-03-09 |
| Maison d'édition: | IEEE Comput. Soc. Press |
| DOI: | 10.1109/edtc.1995.470320 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/edtc.1995.470320 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:23 |
| Citer en APA 7: | Ayari, B., Ben Hamida, N., & Kaminska, B. (mars 1995). Automatic test vector generation for mixed-signal circuits [Communication écrite]. European Conference on Design and Test (EDTC 1995), Paris, France. https://doi.org/10.1109/edtc.1995.470320 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
