Cyclogen: automatic, functional-level test generator

Bechir Ayari, Bożena Kamińska

Communication écrite (1992)

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Département:
Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
Organismes subventionnaires:
Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada (NSERC)
ISBN:
0818629851
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/75366/
Nom de la conférence:
1st Asian Test Symposium (ATS 1992)
Lieu de la conférence:
Hiroshima, Japan
Date(s) de la conférence:
1992-11-26 - 1992-11-27
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ats.1992.224449
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/ats.1992.224449
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:75366
ORCID
Date du dépôt:
15 avr. 2026 15:47
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:36
Citer en APA 7:
Ayari, B., & Kamińska, B. (novembre 1992). Cyclogen: automatic, functional-level test generator [Communication écrite]. 1st Asian Test Symposium (ATS 1992), Hiroshima, Japan. https://doi.org/10.1109/ats.1992.224449

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