A uniform testability measures representation for sequential and combinational circuits

Naim Ben Hamida, Bożena Kamińska

Communication écrite (1991)

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Département:
Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
ISBN:
0780300505
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/72154/
Nom de la conférence:
International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1991)
Lieu de la conférence:
Singapore
Date(s) de la conférence:
1991-06-11 - 1991-06-14
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/iscas.1991.176799
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/iscas.1991.176799
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:72154
ORCID
Date du dépôt:
05 févr. 2026 15:56
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:32
Citer en APA 7:
Hamida, N. B., & Kamińska, B. (juin 1991). A uniform testability measures representation for sequential and combinational circuits [Communication écrite]. International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1991), Singapore. https://doi.org/10.1109/iscas.1991.176799

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