Parametric and catastrophic fault coverage of analog circuits in oscillation-test methodology

Karim Arabi, Bożena Kamińska

Communication écrite (1997)

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Département:
Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
ISBN:
0818678100
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/75603/
Nom de la conférence:
15th IEEE VLSI Test Symposium
Lieu de la conférence:
Monterey, CA, USA
Date(s) de la conférence:
1997-04-27 - 1997-05-01
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/vtest.1997.600246
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/vtest.1997.600246
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:75603
ORCID
Date du dépôt:
23 avr. 2026 15:37
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:37
Citer en APA 7:
Arabi, K., & Kamińska, B. (avril 1997). Parametric and catastrophic fault coverage of analog circuits in oscillation-test methodology [Communication écrite]. 15th IEEE VLSI Test Symposium, Monterey, CA, USA. https://doi.org/10.1109/vtest.1997.600246

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