Karim Arabi et Bożena Kamińska
Communication écrite (1997)
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| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
|---|---|
| ISBN: | 0818678100 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/75603/ |
| Nom de la conférence: | 15th IEEE VLSI Test Symposium |
| Lieu de la conférence: | Monterey, CA, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1997-04-27 - 1997-05-01 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/vtest.1997.600246 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/vtest.1997.600246 |
| Date du dépôt: | 23 avr. 2026 15:37 |
| Dernière modification: | 23 avr. 2026 15:37 |
| Citer en APA 7: | Arabi, K., & Kamińska, B. (avril 1997). Parametric and catastrophic fault coverage of analog circuits in oscillation-test methodology [Communication écrite]. 15th IEEE VLSI Test Symposium, Monterey, CA, USA. https://doi.org/10.1109/vtest.1997.600246 |
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