Naim Ben-Hamida, Bechir Ayari, Bożena Kamińska
Communication écrite (1996)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
1996 International Conference on Computer Design, ICCD'96
Lieu de la conférence:
Austin, TX, USA
Date(s) de la conférence:
1996-10-07 - 1996-10-09
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:31512
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:18
Citer en APA 7:
Ben-Hamida, N., Ayari, B., & Kamińska, B. (octobre 1996). Testing of embedded A/D converters in mixed-signal circuit [Communication écrite]. 1996 International Conference on Computer Design, ICCD'96, Austin, TX, USA. https://doi.org/10.1109/iccd.1996.563546
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