Communication écrite (1994)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
1994 3rd International Conference on the Economics of Design, Test, and Manufacturing
Lieu de la conférence:
Austin, TX, USA
Date(s) de la conférence:
1994-05-16 - 1994-05-17
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:31326
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:18
Citer en APA 7:
Fares, M., & Kamińska, B. (mai 1994). Test strategy selection for multi-chip systems [Communication écrite]. 1994 3rd International Conference on the Economics of Design, Test, and Manufacturing, Austin, TX, USA. https://doi.org/10.1109/icedtm.1994.496097
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