Controllability and observability measures for functional-level testability evaluation

Mohamed Jamoussi, Bożena Kamińska

Communication écrite (1993)

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ISBN:
0818638303
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
11th IEEE VLSI Test Symposium
Lieu de la conférence:
Atlantic City, NJ, USA
Date(s) de la conférence:
1993-04-06 - 1993-04-08
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:75602
ORCID
Date du dépôt:
17 avr. 2026 13:40
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:37
Citer en APA 7:
Jamoussi, M., & Kamińska, B. (avril 1993). Controllability and observability measures for functional-level testability evaluation [Communication écrite]. 11th IEEE VLSI Test Symposium, Atlantic City, NJ, USA. https://doi.org/10.1109/vtest.1993.313332

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