Deterministic built-in self-test generator based on cellular automata structures

Samir Boubezari, Bożena Kamińska

Article de revue (1995)

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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue :
IEEE Transactions on Computers ( vol. 44 , no 6 )
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:32538
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:
08 oct. 2026 17:42
Citer en APA 7:
Boubezari, S., & Kamińska, B. (1995). Deterministic built-in self-test generator based on cellular automata structures. IEEE Transactions on Computers, 44(6), 805-816. https://doi.org/10.1109/12.391181

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