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New dynamic test vector compaction for automatic test pattern generation

Bechir Ayari et Bozena Kaminska

Article de revue (1994)

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Renseignements supplémentaires: Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Département: Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/33586/
Titre de la revue: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems (vol. 13, no 3)
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/43.265676
URL officielle: https://doi.org/10.1109/43.265676
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:25
Dernière modification: 05 avr. 2024 11:24
Citer en APA 7: Ayari, B., & Kaminska, B. (1994). New dynamic test vector compaction for automatic test pattern generation. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 13(3), 353-358. https://doi.org/10.1109/43.265676

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