Mathieu Gagnon, Bożena Kamińska
Communication écrite (1997)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
1997 IEEE International Test Conference
Lieu de la conférence:
Washington, DC, USA
Date(s) de la conférence:
1997-11-03 - 1997-11-05
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:30461
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:23
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:17
Citer en APA 7:
Gagnon, M., & Kamińska, B. (novembre 1997). Optical communication channel test using BIST approaches [Communication écrite]. 1997 IEEE International Test Conference, Washington, DC, USA. https://doi.org/10.1109/test.1997.639672
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