Yvon Savaria
, Bruno Laguë, Bożena Kamińska
Communication écrite (1989)
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Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
International Test Conference 1989
Lieu de la conférence:
Washington, DC, USA
Date(s) de la conférence:
1989-08-29 - 1989-08-31
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:74306
ORCID
Date du dépôt:
13 avr. 2026 13:58
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:35
Citer en APA 7:
Savaria, Y., Laguë, B., & Kamińska, B. (août 1989). A pragmatic approach to the design of self-testing circuits [Communication écrite]. International Test Conference 1989, Washington, DC, USA. https://doi.org/10.1109/test.1989.82363
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