Mustapha Slamani, Bożena Kamińska
Communication écrite (1994)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
12th IEEE VLSI Test Symposium
Lieu de la conférence:
Cherry Hill, NJ, USA
Date(s) de la conférence:
1994-04-25 - 1994-04-28
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:32844
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:25
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:20
Citer en APA 7:
Slamani, M., & Kamińska, B. (avril 1994). Multifrequency testability analysis for analog circuits [Communication écrite]. 12th IEEE VLSI Test Symposium, Cherry Hill, NJ, USA. https://doi.org/10.1109/vtest.1994.292334
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