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Oscillation-test strategy for analog and mixed-signal integrated circuits

Karim Arabi et Bozena Kaminska

Communication écrite (1996)

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Renseignements supplémentaires: Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Département: Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/31567/
Nom de la conférence: 1996 14th IEEE VLSI Test Symposium
Lieu de la conférence: Princeton, NJ, USA
Date(s) de la conférence: 1996-04-28 - 1996-05-01
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/vtest.1996.510896
URL officielle: https://doi.org/10.1109/vtest.1996.510896
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:24
Dernière modification: 05 avr. 2024 11:21
Citer en APA 7: Arabi, K., & Kaminska, B. (avril 1996). Oscillation-test strategy for analog and mixed-signal integrated circuits [Communication écrite]. 1996 14th IEEE VLSI Test Symposium, Princeton, NJ, USA. https://doi.org/10.1109/vtest.1996.510896

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