K. Arabi, Bożena Kamińska, Mohamad Sawan
Article de revue (1998)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
(
vol.
6
,
no
3
)
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:29901
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:22
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:07
Citer en APA 7:
Arabi, K., Kamińska, B., & Sawan, M. (1998). On Chip Testing Data Converters Using Static Parameters. IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 6(3), 409-419. https://doi.org/10.1109/92.711312
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