K. Arabi, Bożena Kamińska et Mohamad Sawan
Article de revue (1998)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/29901/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems (vol. 6, no 3) |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/92.711312 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/92.711312 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:22 |
| Dernière modification: | 13 avr. 2026 11:11 |
| Citer en APA 7: | Arabi, K., Kamińska, B., & Sawan, M. (1998). On Chip Testing Data Converters Using Static Parameters. IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 6(3), 409-419. https://doi.org/10.1109/92.711312 |
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