M. Jamoussi, Bozena Kaminska et D. Mukhedkar
Article de revue (1994)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/33191/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Fundamental Theory and Applications (vol. 41, no 1) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/81.260230 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/81.260230 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:24 |
| Citer en APA 7: | Jamoussi, M., Kaminska, B., & Mukhedkar, D. (1994). Testability of one-dimensional iterative arrays using a variable testability measure. IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Fundamental Theory and Applications, 41(1), 82-86. https://doi.org/10.1109/81.260230 |
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