Venkatapathi N. Rayapati, Bożena Kamińska
Communication écrite (1993)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
ISBN:
0818641509
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Workshop on Memory Testing (MT 1993)
Lieu de la conférence:
San Jose, CA, United states
Date(s) de la conférence:
1993-08-09 - 1993-08-10
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:43088
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:26
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:54
Citer en APA 7:
Rayapati, V. N., & Kamińska, B. (août 1993). Dynamic reconfiguration schemes for mega bit BiCMOS SRAMs [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Memory Testing (MT 1993), San Jose, CA, United states. https://doi.org/10.1109/mt.1993.263137
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