K. Saab, D. Marche, Naim BenHamida, Bożena Kamińska
Article de revue (1996)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEE Proceedings. Circuits, Devices and Systems
(
vol.
143
,
no
6
)
Maison d'édition:
IET
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:30899
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:17
Citer en APA 7:
Saab, K., Marche, D., BenHamida, N., & Kamińska, B. (1996). LIMSoft : automated tool for sensitivity analysis and test vector generation : Mixed signal & analogue IC test technology. IEE Proceedings. Circuits, Devices and Systems, 143(6), 386-392. https://doi.org/10.1049/ip-cds%3a19960934
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