K. Saab, D. Marche, N. B. Hamida et Bozena Kaminska
Article de revue (1996)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/30899/ |
| Titre de la revue: | IEE Proceedings. Circuits, Devices and Systems (vol. 143, no 6) |
| Maison d'édition: | IET |
| DOI: | 10.1049/ip-cds:19960934 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1049/ip-cds%3a19960934 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:20 |
| Citer en APA 7: | Saab, K., Marche, D., Hamida, N. B., & Kaminska, B. (1996). LIMSoft : automated tool for sensitivity analysis and test vector generation : Mixed signal & analogue IC test technology. IEE Proceedings. Circuits, Devices and Systems, 143(6), 386-392. https://doi.org/10.1049/ip-cds%3a19960934 |
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