Mustapha Slamani et Bozena Kaminska
Article de revue (1995)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31719/ |
| Titre de la revue: | IEEE Design & Test of Computers (vol. 12, no 2) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/54.386008 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/54.386008 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:21 |
| Citer en APA 7: | Slamani, M., & Kaminska, B. (1995). Multifrequency analysis of faults in analog circuits. IEEE Design & Test of Computers, 12(2), 70-80. https://doi.org/10.1109/54.386008 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
