Mustapha Slamani et Bożena Kamińska
Article de revue (1995)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31719/ |
| Titre de la revue: | IEEE Design & Test of Computers (vol. 12, no 2) |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/54.386008 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/54.386008 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 14 avr. 2026 10:43 |
| Citer en APA 7: | Slamani, M., & Kamińska, B. (1995). Multifrequency analysis of faults in analog circuits. IEEE Design & Test of Computers, 12(2), 70-80. https://doi.org/10.1109/54.386008 |
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