M. Jamoussi, Bozena Kaminska et Dinkar Mukhedkar
Communication écrite (1992)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/43696/ |
| Nom de la conférence: | 5th International Conference on VLSI Design (ICVD 1992) |
| Lieu de la conférence: | Banglore, India |
| Date(s) de la conférence: | 1992-01-04 - 1992-01-07 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/icvd.1992.658054 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/icvd.1992.658054 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:26 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:42 |
| Citer en APA 7: | Jamoussi, M., Kaminska, B., & Mukhedkar, D. (janvier 1992). A New variable testability measure: A concept for data-flow testability evaluation [Communication écrite]. 5th International Conference on VLSI Design (ICVD 1992), Banglore, India. https://doi.org/10.1109/icvd.1992.658054 |
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