Mohamed Jamoussi, Bożena Kamińska, Dinkar Mukhedkar
Communication écrite (1992)
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Département:
ISBN:
0818624655
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
5th International Conference on VLSI Design (ICVD 1992)
Lieu de la conférence:
Bangalore, India
Date(s) de la conférence:
1992-01-04 - 1992-01-07
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:43696
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:26
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:55
Citer en APA 7:
Jamoussi, M., Kamińska, B., & Mukhedkar, D. (janvier 1992). A New variable testability measure: A concept for data-flow testability evaluation [Communication écrite]. 5th International Conference on VLSI Design (ICVD 1992), Bangalore, India. https://doi.org/10.1109/icvd.1992.658054
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