Mohamed Jamoussi et Bozena Kaminska
Communication écrite (1994)
Un lien externe est disponible pour ce documentRenseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/33193/ |
Nom de la conférence: | 7th International Conference on VLSI Design |
Lieu de la conférence: | Calcutta, India |
Date(s) de la conférence: | 1994-01-05 - 1994-01-08 |
Maison d'édition: | IEEE |
DOI: | 10.1109/icvd.1994.282707 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1109/icvd.1994.282707 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:24 |
Citer en APA 7: | Jamoussi, M., & Kaminska, B. (janvier 1994). Data path testability evaluation via functional testability measures [Communication écrite]. 7th International Conference on VLSI Design, Calcutta, India. https://doi.org/10.1109/icvd.1994.282707 |
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