Ayari Bechir et Bożena Kamińska
Communication écrite (1995)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| ISBN: | 0780325702 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/75598/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1995) |
| Lieu de la conférence: | Seattle, WA, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1995-04-30 - 1995-05-03 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/iscas.1995.523847 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/iscas.1995.523847 |
| Date du dépôt: | 23 avr. 2026 10:08 |
| Dernière modification: | 23 avr. 2026 10:08 |
| Citer en APA 7: | Bechir, A., & Kamińska, B. (avril 1995). BDD FTEST: fast, backtrack-free test generator based on binary decision diagram representation [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1995), Seattle, WA, USA. https://doi.org/10.1109/iscas.1995.523847 |
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