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Documents dont l'auteur est "Bechir, Ayari"

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Bechir, A., & Kamińska, B. (avril 1995). BDD FTEST: fast, backtrack-free test generator based on binary decision diagram representation [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1995), Seattle, WA, USA. Lien externe

Liste produite: Sun May 24 05:05:50 2026 EDT.