Iboun-Taimiya Sylla, Mustapha Slamani, Bozena Kaminska et Fadhel M. Ghannouchi
Article de revue (1997)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/30042/ |
| Titre de la revue: | Microwave and Optical Technology Letters (vol. 16, no 3) |
| Maison d'édition: | Wiley |
| DOI: | 10.1002/(sici)1098-2760(19971020)16:3<132::aid-mop2>3.0.co;2-n |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1002/%28sici%291098-2760%281997... |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:23 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:19 |
| Citer en APA 7: | Sylla, I.-T., Slamani, M., Kaminska, B., & Ghannouchi, F. M. (1997). Joint design and test consideration in high frequency circuits. Microwave and Optical Technology Letters, 16(3), 132-138. https://doi.org/10.1002/%28sici%291098-2760%2819971020%2916%3a3%3c132%3a%3aaid-mop2%3e3.0.co%3b2-n |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
