Joint design and test consideration in high frequency circuits

Iboun-Taimiya Sylla, Mustapha Slamani, Bożena Kamińska, Fadhel M. Ghannouchi

Article de revue (1997)

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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
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Titre de la revue :
Microwave and Optical Technology Letters ( vol. 16 , no 3 )
Maison d'édition:
Wiley
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:30042
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:23
Dernière modification:
08 oct. 2026 17:37
Citer en APA 7:
Sylla, I.-T., Slamani, M., Kamińska, B., & Ghannouchi, F. M. (1997). Joint design and test consideration in high frequency circuits. Microwave and Optical Technology Letters, 16(3), 132-138. https://doi.org/10.1002/%28sici%291098-2760%2819971020%2916%3a3%3c132%3a%3aaid-mop2%3e3.0.co%3b2-n

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