Iboun Taimiya Sylla, Mustapha Slamani, Bożena Kamińska, Fartoumi M. Hossein et Patrick Vincent
Communication écrite (1998)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| ISBN: | 0818684364 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/29299/ |
| Nom de la conférence: | 16th IEEE VLSI Test Symposium |
| Lieu de la conférence: | Monterey, CA, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1998-04-26 - 1998-04-30 |
| Maison d'édition: | IEEE Comput. Soc |
| DOI: | 10.1109/vtest.1998.670875 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/vtest.1998.670875 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:23 |
| Dernière modification: | 14 avr. 2026 10:51 |
| Citer en APA 7: | Sylla, I. T., Slamani, M., Kamińska, B., Hossein, F. M., & Vincent, P. (avril 1998). Impedance mismatch and lumped capacitance effects in high frequency testing [Communication écrite]. 16th IEEE VLSI Test Symposium, Monterey, CA, USA. https://doi.org/10.1109/vtest.1998.670875 |
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