Iboun Taimiya Sylla, Mustapha Slamani, Bożena Kamińska, Fartoumi M. Hossein, Patrick Vincent
Communication écrite (1998)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
ISBN:
0818684364
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
16th IEEE VLSI Test Symposium
Lieu de la conférence:
Monterey, CA, USA
Date(s) de la conférence:
1998-04-26 - 1998-04-30
Maison d'édition:
IEEE Comput. Soc
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:29299
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:23
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:06
Citer en APA 7:
Sylla, I. T., Slamani, M., Kamińska, B., Hossein, F. M., & Vincent, P. (avril 1998). Impedance mismatch and lumped capacitance effects in high frequency testing [Communication écrite]. 16th IEEE VLSI Test Symposium, Monterey, CA, USA. https://doi.org/10.1109/vtest.1998.670875
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