Article de revue (1998)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Journal of Solid-State Circuits
(
vol.
33
,
no
4
)
Maison d'édition:
IEEE
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:29902
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:22
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:07
Citer en APA 7:
Arabi, K., & Kamińska, B. (1998). Design for Testability of Embedded Integrated Operational Amplifiers. IEEE Journal of Solid-State Circuits, 33(4), 573-581. https://doi.org/10.1109/4.663562
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