Karim Arabi et Bożena Kamińska
Article de revue (1998)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/29902/ |
| Titre de la revue: | IEEE Journal of Solid-State Circuits (vol. 33, no 4) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/4.663562 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/4.663562 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:22 |
| Dernière modification: | 13 avr. 2026 11:12 |
| Citer en APA 7: | Arabi, K., & Kamińska, B. (1998). Design for Testability of Embedded Integrated Operational Amplifiers. IEEE Journal of Solid-State Circuits, 33(4), 573-581. https://doi.org/10.1109/4.663562 |
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