Article de revue (1995)
Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Analog and Digital Signal Processing
(
vol.
42
,
no
7
)
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:32591
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:20
Citer en APA 7:
Ayari, B., & Kamińska, B. (1995). CYCLOGEN: Automatic, functional-level test generator based on the cyclomatic complexity measure and on the ROBDD representation. IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Analog and Digital Signal Processing, 42(7), 446-452. https://doi.org/10.1109/82.401167
Statistiques
Dimensions
