Karim Arabi, Bożena Kamińska, Janusz Rzeszut
Communication écrite (1994)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
3rd Asian Test Symposium
Lieu de la conférence:
Nara, Japon
Date(s) de la conférence:
1994-11-15 - 1994-11-17
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:33608
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:25
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:22
Citer en APA 7:
Arabi, K., Kamińska, B., & Rzeszut, J. (novembre 1994). Built-in self-test approach for medium to high-resolution digital-to-analog converters [Communication écrite]. 3rd Asian Test Symposium, Nara, Japon. https://doi.org/10.1109/ats.1994.367203
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