Bechir Ayari et Bożena Kamińska
Communication écrite (1995)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/32592/ |
| Nom de la conférence: | 1995 IEEE International Symposium on Circuits and Systems-ISCAS 95 |
| Lieu de la conférence: | Seattle, WA, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1995-04-30 - 1995-05-03 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/iscas.1995.523847 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/iscas.1995.523847 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 15 avr. 2026 15:48 |
| Citer en APA 7: | Ayari, B., & Kamińska, B. (avril 1995). BDD_FTEST: fast, backtrack-free test generator based on binary decision diagram representation [Communication écrite]. 1995 IEEE International Symposium on Circuits and Systems-ISCAS 95, Seattle, WA, USA. https://doi.org/10.1109/iscas.1995.523847 |
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