BDD_FTEST: fast, backtrack-free test generator based on binary decision diagram representation

Bechir Ayari, Bożena Kamińska

Communication écrite (1995)

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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
1995 IEEE International Symposium on Circuits and Systems-ISCAS 95
Lieu de la conférence:
Seattle, WA, USA
Date(s) de la conférence:
1995-04-30 - 1995-05-03
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:32592
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:20
Citer en APA 7:
Ayari, B., & Kamińska, B. (avril 1995). BDD_FTEST: fast, backtrack-free test generator based on binary decision diagram representation [Communication écrite]. 1995 IEEE International Symposium on Circuits and Systems-ISCAS 95, Seattle, WA, USA. https://doi.org/10.1109/iscas.1995.523847

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