A. Abderrahman, E. Cerny et Bozena Kaminska
Article de revue (1999)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/29202/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems (vol. 18, no 3) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/43.748163 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/43.748163 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:22 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:17 |
| Citer en APA 7: | Abderrahman, A., Cerny, E., & Kaminska, B. (1999). Worst Case Tolerance Analysis and Clp-Based Multifrequency Test Generation for Analog Circuits. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 18(3), 332-345. https://doi.org/10.1109/43.748163 |
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