Abdessatar Abderrahman, Eduard Cerny, Bożena Kamińska
Article de revue (1999)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(
vol.
18
,
no
3
)
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:29202
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:22
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:06
Citer en APA 7:
Abderrahman, A., Cerny, E., & Kamińska, B. (1999). Worst Case Tolerance Analysis and Clp-Based Multifrequency Test Generation for Analog Circuits. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 18(3), 332-345. https://doi.org/10.1109/43.748163
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