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Nuage de motsUn nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
Dans le contexte de cette page, le nuage de mots a été généré à partir des publications de l'auteur A. Abderrahman. Les mots présents dans ce nuage proviennent des titres, résumés et mots-clés des articles et travaux de recherche de cet auteur. En analysant ce nuage de mots, vous pouvez obtenir un aperçu des sujets et des domaines de recherche les plus récurrents et significatifs dans les travaux de cet auteur.Le nuage de mots est un outil utile pour identifier les tendances et les thèmes principaux dans un corpus de textes, facilitant ainsi la compréhension et l'analyse des contenus de manière visuelle et intuitive.
Abderrahman, A., Savaria, Y., Khouas, A., & Sawan, M. (août 2007). Accurate testability analysis based-on multi-frequency test generation and a new testability metric [Communication écrite]. IEEE Northeast Workshop on Circuits and Systems (NEWCAS 2007), Montréal, Québec. Lien externe
Abderrahman, A., Savaria, Y., Khouas, A., & Sawan, M. (décembre 2007). New Analog Test Metrics Based on Probabilistic and Deterministic Combination Approaches [Communication écrite]. 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems, Marrakech, Morocco. Lien externe
Abderrahman, A., Cerny, E., & Kaminska, B. (1999). Worst Case Tolerance Analysis and Clp-Based Multifrequency Test Generation for Analog Circuits. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 18(3), 332-345. Lien externe
Abderrahman, A., Cerny, E., & Kaminska, B. (avril 1997). CLP-based multifrequency test generation for analog circuits [Communication écrite]. 1997 15th VLSI Test Symposium, Monterey, CA, USA. Lien externe
Abderrahman, A., Savaria, Y., & Kaminska, B. (1996). Analyse, estimation et réduction du bruit de commutation simultanée. [Analysis, estimation and reduction of simultaneous switching noise]. Canadian Journal of Electrical and Computer Engineering, 21(4), 133-143. Lien externe
Abderrahman, A., Cerny, E., & Kaminska, B. (1996). Optimization-based multifrequency test generation for analog circuits. Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), 9(1-2), 59-73. Lien externe
Abderrahman, A., Kaminska, B., & Savaria, Y. (février 1994). Estimation of simultaneous switching power and ground noise of static CMOS combinational circuits [Communication écrite]. European Design and Test Conference, Paris, Fr. Lien externe
