New Analog Test Metrics Based on Probabilistic and Deterministic Combination Approaches

A. Abderrahman, Yvon Savaria, Abdelhakim Khouas et Mohamad Sawan

Communication écrite (2007)

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Département:	Département de génie électrique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/22342/
Nom de la conférence:	14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems
Lieu de la conférence:	Marrakech, Morocco
Date(s) de la conférence:	2007-12-11 - 2007-12-14
Maison d'édition:	Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:	10.1109/icecs.2007.4510936
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/icecs.2007.4510936
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:16
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:06

Citer en APA 7:	Abderrahman, A., Savaria, Y., Khouas, A., & Sawan, M. (décembre 2007). New Analog Test Metrics Based on Probabilistic and Deterministic Combination Approaches [Communication écrite]. 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems, Marrakech, Morocco. https://doi.org/10.1109/icecs.2007.4510936
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