New Analog Test Metrics Based on Probabilistic and Deterministic Combination Approaches

A. Abderrahman, Yvon Savaria, Abdelhakim Khouas, Mohamad Sawan

Communication écrite (2007)

Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Voir chez l'éditeur officiel
Département:
Département de génie électrique
ISBN:
9781424413775
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/22342/
Nom de la conférence:
14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems
Lieu de la conférence:
Marrakech, Morocco
Date(s) de la conférence:
2007-12-11 - 2007-12-14
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/icecs.2007.4510936
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/icecs.2007.4510936
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:22342
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:16
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:55
Citer en APA 7:
Abderrahman, A., Savaria, Y., Khouas, A., & Sawan, M. (décembre 2007). New Analog Test Metrics Based on Probabilistic and Deterministic Combination Approaches [Communication écrite]. 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems, Marrakech, Morocco. https://doi.org/10.1109/icecs.2007.4510936

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document
Afficher document