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Accurate testability analysis based-on multi-frequency test generation and a new testability metric

A. Abderrahman, Yvon Savaria, Abdelhakim Khouas et Mohamad Sawan

Communication écrite (2007)

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Département: Département de génie électrique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/22341/
Nom de la conférence: IEEE Northeast Workshop on Circuits and Systems (NEWCAS 2007)
Lieu de la conférence: Montréal, Québec
Date(s) de la conférence: 2007-08-05 - 2007-08-08
Maison d'édition: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/newcas.2007.4488018
URL officielle: https://doi.org/10.1109/newcas.2007.4488018
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:16
Dernière modification: 05 mai 2023 15:28
Citer en APA 7: Abderrahman, A., Savaria, Y., Khouas, A., & Sawan, M. (août 2007). Accurate testability analysis based-on multi-frequency test generation and a new testability metric [Communication écrite]. IEEE Northeast Workshop on Circuits and Systems (NEWCAS 2007), Montréal, Québec. https://doi.org/10.1109/newcas.2007.4488018

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