A. Abderrahman, Eduard Cerny, Bożena Kamińska
Article de revue (1996)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA)
(
vol.
9
,
no
1-2
)
Maison d'édition:
Springer
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:31599
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:
08 oct. 2026 17:40
Citer en APA 7:
Abderrahman, A., Cerny, E., & Kamińska, B. (1996). Optimization-based multifrequency test generation for analog circuits. Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), 9(1-2), 59-73. https://doi.org/10.1007/bf00137565
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