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Optimization-based multifrequency test generation for analog circuits

A. Abderrahman, E. Cerny et Bozena Kaminska

Article de revue (1996)

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Renseignements supplémentaires: Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Département: Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/31599/
Titre de la revue: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA) (vol. 9, no 1-2)
Maison d'édition: Springer
DOI: 10.1007/bf00137565
URL officielle: https://doi.org/10.1007/bf00137565
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:24
Dernière modification: 05 mai 2023 15:36
Citer en APA 7: Abderrahman, A., Cerny, E., & Kaminska, B. (1996). Optimization-based multifrequency test generation for analog circuits. Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), 9(1-2), 59-73. https://doi.org/10.1007/bf00137565

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