Samir Boubezari, Eduard Cerny, Bożena Kamińska, Benoit Nadeau-Dostie
Article de revue (1999)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(
vol.
18
,
no
9
)
Maison d'édition:
IEEE
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:29106
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:22
Dernière modification:
29 oct. 2026 11:10
Citer en APA 7:
Boubezari, S., Cerny, E., Kamińska, B., & Nadeau-Dostie, B. (1999). Testability Analysis and Test-Point Insertion in Rtl Vhdl Specifications for Scan-Based Bist. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 18(9), 1327-1340. https://doi.org/10.1109/43.784124
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